[实用新型]一种孔类尺寸及形位综合检具有效
| 申请号： | 202020042112.4 | 申请日： | 2020-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN211120939U | 公开（公告）日： | 2020-07-28 |
| 发明（设计）人： | 王斌;殷红秋;杨建华 | 申请（专利权）人： | 中核（天津）科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/00 | 分类号： | G01B5/00 |
| 代理公司： | 天津市宗欣专利商标代理有限公司 12103 | 代理人： | 马倩 |
| 地址： | 300180 *** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种孔类尺寸及形位综合检具，包括检具主体，其包括依次连接的光轴段、外螺纹段、过渡段和手柄段，光轴段与外螺纹段共轴线，光轴段的外径小于外螺纹段的大径。本实用新型可满足设计有连续光孔和螺孔的工件尺寸及形位误差检验使用，检具在准确检测连续阶梯孔尺寸的同时，检验了孔间的同轴度和圆度，实现了几何尺寸和形位误差的同步检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 尺寸 综合 | ||
【主权项】：
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