[实用新型]一种孔类尺寸及形位综合检具

说明书

本实用新型公开了一种孔类尺寸及形位综合检具，包括检具主体，其包括依次连接的光轴段、外螺纹段、过渡段和手柄段，光轴段与外螺纹段共轴线，光轴段的外径小于外螺纹段的大径。本实用新型可满足设计有连续光孔和螺孔的工件尺寸及形位误差检验使用，检具在准确检测连续阶梯孔尺寸的同时，检验了孔间的同轴度和圆度，实现了几何尺寸和形位误差的同步检测。

技术领域

本实用新型属于量规量具领域，具体涉及一种孔类尺寸及形位综合检具。

背景技术

孔类产品的生产过程中需要对产品的尺寸进行检验，检验常用光滑极限量规进行计数型合格性判定，而对于螺纹孔的检验则通常采用螺纹塞规进行检测。当被检孔为光孔和螺孔的分段式组合阶梯孔，光孔位于螺孔下部，且两段孔之间有关联性形位要求时，常规的标准通止规无法实现准确检测。

实用新型内容

本实用新型是为了克服现有技术中存在的缺点而提出的，其目的是提供一种孔类尺寸及形位综合检具。

本实用新型是通过以下技术方案实现的：

一种孔类尺寸及形位综合检具，包括检具主体，其包括依次连接的光轴段、外螺纹段、过渡段和手柄段，光轴段与外螺纹段共轴线，光轴段的外径小于外螺纹段的大径。

在上述技术方案中，所述过渡段、手柄段和外螺纹段共轴线。

在上述技术方案中，所述过渡段的外径小于外螺纹段的小径。

在上述技术方案中，所述手柄段的外径大于于外螺纹段的外径。

在上述技术方案中，所述光轴段的外表面粗糙度小于1.6μm。

在上述技术方案中，所述外螺纹段的外表面粗糙度小于1.6μm。

本实用新型的有益效果是：

本实用新型提供了一种孔类尺寸及形位综合检具，可实现连续阶梯孔的工件的尺寸及形位误差同时检测，解决传统检测方法无法实现有效检测的问题。

附图说明

图1是本实用新型一种孔类尺寸及形位综合检具的主视图；

图2是本实用新型实施例1中被测工件的剖视图；

图3是本实用新型一种孔类尺寸及形位综合检具检测实施例1中被测工件时的使用状态图。

其中：

1 检具主体

11 光轴段 12 外螺纹段

13 过渡段 14 手柄段

2 被测工件。

对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，可以根据以上附图获得其他的相关附图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型技术方案，下面结合说明书附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型一种孔类尺寸及形位综合检具的技术方案。

实施例1

如图1、3所示，一种孔类尺寸及形位综合检具，包括检具主体1，其包括依次连接的光轴段11、外螺纹段12、过渡段13和手柄段14，光轴段11与外螺纹段12共轴线，光轴段11的外径小于外螺纹段12的大径。

所述过渡段13、手柄段14和外螺纹段12共轴线。

所述过渡段13的外径小于外螺纹段12的小径。

所述手柄段14的外径大于于外螺纹段12的外径。