[发明专利]一种用于安全芯片测试模式的保护装置及方法在审
| 申请号： | 202011636797.6 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112749419A | 公开（公告）日： | 2021-05-04 |
| 发明（设计）人： | 张奇惠;董文强;刘曼 | 申请（专利权）人： | 广州万协通信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F21/77 | 分类号： | G06F21/77;G06F21/75;G06F21/74 |
| 代理公司： | 北京市盛峰律师事务所 11337 | 代理人： | 于国强 |
| 地址： | 510400 广东省广州市白云区北太路1633*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于安全芯片测试模式的保护装置及方法，涉及芯片安全防护技术领域；该装置包括简单保护模块、对称保护模块、软保护模块和分布保护模块，其中简单保护模块用于生成测试模式进入的使能信号EN0，对称保护模块用于生成测试模式进入的使能信号EN1，软保护模块用于生成测试模式进入的使能信号EN2，分布保护模块用于使用EN0、EN1和EN2根据分布保护策略对测试模式的进入过程进行分布式保护。本发明中提供的装置提供了三重保护以实现在芯片已经完成CP测试后有效防御攻击者重新进入测试模式，同时在不破坏芯片的情况下，不能逆向追踪三个使能信号的分布布线结构，从而进一步提高芯片的安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 安全 芯片 测试 模式 保护装置 方法 | ||
【主权项】：
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