[发明专利]光激励红外热成像无损检测方法、系统、存储介质及终端在审
| 申请号： | 202011636621.0 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112782226A | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 高斌;朱玉玉;康玉宽 | 申请（专利权）人： | 四川沐迪圣科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/72 | 分类号： | G01N25/72;G06K9/62;G06T7/00 |
| 代理公司： | 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人： | 张巨箭 |
| 地址： | 610000 四川省成都市中国(四川)自由*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光激励红外热成像无损检测方法、系统、存储介质及终端，属于光激励红外检测技术领域，方法包括：基于L4范数建立对矩阵Y进行稀疏表示的优化目标函数，并通过交替迭代的方式求解优化目标函数，进而得到稀疏系数矩阵X；将稀疏系数矩阵X逆矩阵化，得到缺陷信息增强后的图像序列。本发明基于L4范数建立对矩阵Y进行稀疏表示的优化目标函数，由于L4范数的特殊性质，使得基于L4范数的稀疏字典学习算法更易获得与真实字典相近的字典，从而更好的恢复数据的稀疏表示，更好的提取弱缺陷信息，提高了缺陷检测准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 激励 红外 成像 无损 检测 方法 系统 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
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