[发明专利]光激励红外热成像无损检测方法、系统、存储介质及终端在审
申请号: | 202011636621.0 | 申请日: | 2020-12-31 |
公开(公告)号: | CN112782226A | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 高斌;朱玉玉;康玉宽 | 申请(专利权)人: | 四川沐迪圣科技有限公司 |
主分类号: | G01N25/72 | 分类号: | G01N25/72;G06K9/62;G06T7/00 |
代理公司: | 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 张巨箭 |
地址: | 610000 四川省成都市中国(四川)自由*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激励 红外 成像 无损 检测 方法 系统 存储 介质 终端 | ||
1.一种光激励红外热成像无损检测方法,其特征在于:所述方法包括:
基于L4范数建立对矩阵Y进行稀疏表示的优化目标函数,并通过交替迭代的方式求解优化目标函数,进而得到稀疏系数矩阵X;
将稀疏系数矩阵X逆矩阵化,得到缺陷信息增强后的图像序列。
2.根据权利要求1所述光激励红外热成像无损检测方法,其特征在于:所述优化目标函数具体为:
Y=DX,DTD=I,X~iidBG(θ)
其中,||·||4表示L4范数,||·||F表示Frobenius范数,X~iidBG(θ)表示稀疏系数矩阵X服从伯努利-高斯分布,θ是系数,用来控制X矩阵的稀疏程度,P∈SP(k)代表符号排列矩阵,矩阵A∈Rk×f是全局最大化器,I∈Rk×k是单位矩阵,C和ε是阈值参数。
3.根据权利要求2所述光激励红外热成像无损检测方法,其特征在于:所述通过交替迭代的方式求解优化目标函数具体为:
设置迭代次数q,q=1,2,...Q,Q表示最大迭代次数;初始化A0=[eye(k,k);zeros(f-k,k)];
计算的导数得到
根据对进行SVD分解,其中,SVD(·)代表奇异值矩阵分解,U∈Rk×k是左奇异矩阵,V∈Rf×f是右奇异矩阵,Σ∈Rk×f是奇异值矩阵;
更新Aq+1为Aq+1=UV*;
更新迭代次数q←q+1,直至q=Q,得到稀疏系数矩阵X(AQY)。
4.根据权利要求1所述光激励红外热成像无损检测方法,其特征在于:所述基于L4范数建立对矩阵Y进行稀疏表示的优化目标函数前还包括:
获取被测试件的红外热图序列Z;
将Z的每帧按行依次取每个像素点的像素值,再按取值顺序垂直排列,并将垂直排列后的每帧红外热图依次排列,构架出一个新矩阵并转置,将转置后的矩阵记为Y。
5.根据权利要求4所述光激励红外热成像无损检测方法,其特征在于:所述获取被测试件的红外热图序列Z还包括:
将红外热图序列Z的每一帧红外热图像进行小波分解,仅保留低频部分,得到新的红外热图序列Z’,再将红外热图序列Z’矩阵化得到矩阵Y。
6.根据权利要求1-5任意一项所述光激励红外热成像无损检测方法的检测系统,其特征在于:所述检测系统包括激励源模块和激励源管理模块;激励源模块包括热像仪和光阵;激励源管理模块包括工控机、控制单元和信号发生单元;
热像仪、工控机、控制单元、信号发生单元和光阵顺次连接,且工控机与控制单元双向连接。
7.根据权利要求6所述光激励红外热成像无损检测系统,其特征在于:所述激励源模块包括加长罩、设于加长罩上的外罩、设有外罩内部的聚光罩和头部伸入至聚光罩的热像仪;外罩顶部设有显示器,聚光罩内设有均布分布的卤素灯构成光阵。
8.根据权利要求6所述光激励红外热成像无损检测系统,其特征在于:所述信号发生单元包括模式切换与驱动控制电路、低频正弦电路和脉冲产生电路,控制单元经模式切换与驱动控制电路分别与低频正弦电路、脉冲产生电路连接,低频正弦电路、脉冲产生电路之间经转换单元连接,模式切换与驱动控制电路输出端连接至转换单元,脉冲产生电路输出端连接至光阵。
9.一种存储介质,其上存储有计算机指令,其特征在于:所述计算机指令运行时执行权利要求1-5任意一项所述光激励红外热成像无损检测方法的步骤。
10.一种终端,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机指令,其特征在于:所述处理器运行所述计算机指令时执行权利要求1-5任意一项所述光激励红外热成像无损检测方法的步骤。
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