[发明专利]用于校准激光扫平仪的装置在审

专利信息
申请号: 202011629188.8 申请日: 2020-12-31
公开(公告)号: CN112798019A 公开(公告)日: 2021-05-14
发明(设计)人: 石昕;邢星 申请(专利权)人: 美国西北仪器公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00;G01C15/00
代理公司: 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 代理人: 杨胜军
地址: 美国新泽*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开内容涉及一种用于校准激光扫平仪的装置,包括:底座平台,被构造用于在第一位置处支撑待安装在其上的激光扫平仪;激光探测器,被设置在底座平台的第二位置处并且被构造用于接收激光;光路延长装置,被设置在激光扫平仪和所述激光探测器之间的第三位置处且被构造用于接收激光扫平仪所发射出的激光并将其经光路延长装置调节后投射到激光探测器上。借助于光路延长装置能够实现激光扫平仪和激光探测器之间的物理距离进行光学延长,能够在激光扫平仪和激光探测器之间的物理距离不变的情况下,能够模拟出激光扫平仪和激光探测器之间的光学光路距离被放大的技术效果,从而能够根据被放大后的光学光路距离来实现激光扫平仪的校准,提高校准精度。
搜索关键词: 用于 校准 激光 扫平 装置
【主权项】:
暂无信息
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