[发明专利]一种时钟频率校准的测试方法、装置、存储介质和终端在审
| 申请号： | 202011593361.3 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112540290A | 公开（公告）日： | 2021-03-23 |
| 发明（设计）人： | 唐维强;龙冬庆;吴彤彤 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯天下技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙) 44377 | 代理人： | 陈志超;唐敏珊 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区横*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种时钟频率校准的测试方法、装置、存储介质和终端，发送固定宽度高电平，计数芯片内时钟走完该高电平所需要时钟个数，如果时钟个数在设定范围内，则校准通过，否则改变时钟的频率设置参数，然后重复计数时钟走完该高电平所需要的时钟个数并重复判断，直到时钟走完该高电平所需要的时钟个数落入设定范围内，即完成时钟频率的校准；通过将传统的直接测量芯片内时钟频率的做法改为测量芯片内时钟走完一定宽度高电平所需要的时钟个数，并判断时钟个数是否在设定范围内，固定宽度的高电平通过低阶测试机生成，整个过程无需使用高阶测试机，大大降低了测试的成本；而且整个过程只涉及时钟个数的测量和判断，测试程序简单，可操作性强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 时钟 频率 校准 测试 方法 装置 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
暂无信息
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