[发明专利]冷冻芯片、冷冻系统、样品测试系统及方法在审
| 申请号： | 202011583914.7 | 申请日： | 2020-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN112747995A | 公开（公告）日： | 2021-05-04 |
| 发明（设计）人： | 赵蒙 | 申请（专利权）人： | 生物岛实验室;珠海飒德科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/42 | 分类号： | G01N1/42;G01N1/44;G05D23/32 |
| 代理公司： | 北京智信四方知识产权代理有限公司 11519 | 代理人： | 吕雁葭;宋海龙 |
| 地址： | 510320 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： |
本公开实施例公开了一种冷冻芯片、冷冻系统、样品测试系统及方法，所述冷冻芯片包括芯片基底；样品放置层，其表面划分为不少于一个局部温控区域，所述局部温控区域用于放置样品；若干个控温单元，用于调整局部温控区域的温度；其中，所述芯片基底具有支撑面，用于支撑所述样品放置层的顶面或底面的部分区域形成第一接触面；所述第一接触面的区域与所述局部温控区域在同一平面的投影不完全重叠。该技术能够在对样品进行原位观察与表征的过程中选择特定时间进行冷冻和解冻，通过界面热阻设计获得高于10 |
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| 搜索关键词： | 冷冻 芯片 系统 样品 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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