[发明专利]一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具有效
| 申请号： | 202011558279.7 | 申请日： | 2020-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN112649680B | 公开（公告）日： | 2023-03-21 |
| 发明（设计）人： | 罗梦佳;韩艳菊;郄莉;苏霞;张雷;于姗姗;王巨;乔志峰;陈金和;郑鸿耀 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R29/26 | 分类号： | G01R29/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人： | 张国虹 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具，该测试夹具包括壳体和装在壳体内的振动测试电路板，壳体上设有安装被测晶体振荡器的凹槽，凹槽底部设有与振动测度电路板连通的通孔，振动测试电路板上固定有插装被测晶体振荡器上引脚的插孔，插孔内设有与被测晶体振荡器上引脚固定相接的插针，振动测试电路板上还连接有伸出壳体的电源线和测试电缆线。本发明通过增加振动测试电路板，将电源线、测试电缆线与电路板相连，而非直接与被测晶体振荡器连接，连接更为稳固可靠，减少了线缆软连接引入的噪声干扰，提升了测试可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体振荡器 动态 相位 噪声 测试 夹具 | ||
【主权项】：
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