[发明专利]一种接触式微位移检测装置有效
| 申请号： | 202011507815.0 | 申请日： | 2020-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN112683152B | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 居本祥;米曾真 | 申请（专利权）人： | 重庆理工大学 |
| 主分类号： | G01B7/02 | 分类号： | G01B7/02 |
| 代理公司： | 重庆天成卓越专利代理事务所(普通合伙) 50240 | 代理人： | 谭小容 |
| 地址： | 400054 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种接触式微位移检测装置，包括中空的壳体，壳体内横向设有测量杆，测量杆的左端穿出壳体外，测量杆上下两侧从内向外依次设有磁控弹性体、压电片和U型安装槽，两个U型安装槽相背设置，且分别与壳体的上、下内侧壁围成分别用于放置第一永磁体与第二永磁体的空腔，两个压电片均连接有引线，壳体内靠右固设有定向板，测量杆右端穿过定向板自由悬空，壳体右内侧壁上设有垫块；壳体左侧壁和定向板上均设有导向环，测量杆上靠左固定连接有左推板，靠右固定连接有右推板，左推板与左侧壁之间连接有左弹性复位机构，右推板与定向板之间连接有右弹性复位机构。能够准确检测物体产生的微小的位移。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 接触 式微 位移 检测 装置 | ||
【主权项】：
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