[发明专利]一种光学检测中窄带吸收的背景校正方法、设备及介质有效
| 申请号： | 202011501092.3 | 申请日： | 2020-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN112729543B | 公开（公告）日： | 2023-01-03 |
| 发明（设计）人： | 刘丰奎;郝俊;刘盼西;刘向东;赵东;牛军;王美彩 | 申请（专利权）人： | 上海安杰智创科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/10 | 分类号： | G01J3/10 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 翁惠瑜 |
| 地址： | 201906 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光学检测中窄带吸收的背景校正方法、设备及介质，所述背景校正方法用于对光学检测系统进行误差校正，该方法包括以下步骤：获取光学检测系统的光学检测系统原始检测数据；基于预先获得的背景校正系数对所述原始检测数据进行背景校正；其中，所述背景校正系数通过以下方式获得：获取一组该光学检测系统的检测数据，通过反向推演及验证的方式获得最优的所述背景校正系数。与现有技术相比，本发明具有有效降低误差、提高精度，无须硬件变更等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 检测 窄带 吸收 背景 校正 方法 设备 介质 | ||
【主权项】：
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