[发明专利]一种芯片检验追踪方法及装置有效
| 申请号： | 202011498629.5 | 申请日： | 2020-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN112684319B | 公开（公告）日： | 2022-11-22 |
| 发明（设计）人： | 薛秋磊;江华;朱士玉;张珩 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 300000 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明的实施例公开一种芯片检验追踪方法及装置，涉及集成电路技术领域，用于解决现有芯片测试过程中无法追踪不同测试阶段芯片型号信息的问题。所述芯片检验追踪方法在对芯片进行熔断测试FUSE之前，包括：对比判断芯片级最后测试FT站别和系统级测试SLT站别中测试的同一芯片ID对应的芯片型号号码是否一致，以及对比判断芯片级最后测试FT站别和系统级测试SLT站别中测试的同一芯片ID对应的测试码是否一致；若FT站别和SLT站别中测试的同一芯片ID对应的芯片型号号码不一致和/或测试码不一致，则记录不一致的信息并发出第一提示。本发明能够实现不同测试阶段的芯片信息的有效追踪，保证芯片型号的准确性和一致性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 检验 追踪 方法 装置 | ||
【主权项】：
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