[发明专利]基于无定位点的试卷识别和矫正方法在审

专利信息
申请号: 202011496539.2 申请日: 2020-12-17
公开(公告)号: CN112597868A 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 陈长志 申请(专利权)人: 四川才子软件信息网络有限公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06K9/32;G06K9/46;G06K9/62;G06T7/12;G06T7/13
代理公司: 成都佳划信知识产权代理有限公司 51266 代理人: 幸伟山
地址: 621000 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于无定位点的试卷识别和矫正方法,包括:将模板试卷划分为左上、右上、左下和右下图像相位;对模板试卷的图像进行二值化和滤波处理;在相位中进行横向滑窗;对横向滑窗内的区域进行边缘检测和轮廓提取;采用模板匹配函数的评分机制求得评分最低的图块,并作为相位的定位块;根据模板试卷中相位对应的定位块的坐标,在试卷样品中查找到识别的区域;对识别的区域进行放大,以模板试卷的相位对应的定位块为模板图,采用模板匹配函数,求得最佳匹配坐标,以得到试卷样品的定位块;选取覆盖客观题和考号区域的数据最多的定位块,采用仿射矩阵和仿射变换函数对试卷样品进行仿射矫正;利用仿射矫正后的图像进行客观题和考号识别。
搜索关键词: 基于 定位 试卷 识别 矫正 方法
【主权项】:
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