[发明专利]一种芯片SRAM拼接方法、装置、电子设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202011495616.2 申请日: 2020-12-17
公开(公告)号: CN112668260A 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: 李文军 申请(专利权)人: 北京物芯科技有限责任公司
主分类号: G06F30/32 分类号: G06F30/32
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 100013 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例公开了一种芯片SRAM拼接方法、装置、电子设备和存储介质,方法包括:获取SRAM拼接的性能参数列表,其中,性能参数列表中包含每个目标SRAM的第一属性信息以及与每个目标SRAM所对应的待拼接子SRAM的第二属性信息;根据性能参数列表确定每个目标SRAM的拼接方式,其中,拼接方式包括深度拼接、宽度拼接以及深度和宽度拼接;按照拼接方式对待拼接子SRAM进行拼接获得每个目标SRAM。通过提前获取SRAM拼接的性能参数列表,并根据性能参数列表可以同时对多个目标SRAM进行自动拼接,而无需用户针对每个需求指令分别编写相应的代码以实现拼接,从而减少了用户的工作量,由于采用自动拼接因此相应的减少了芯片设计的风险。
搜索关键词: 一种 芯片 sram 拼接 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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