[发明专利]基于指向调制微透镜阵列的波前传感器及波前检测方法有效

专利信息
申请号: 202011485048.8 申请日: 2020-12-16
公开(公告)号: CN112729570B 公开(公告)日: 2022-04-19
发明(设计)人: 武春风;董理治;王勋;陈善球;吴丰阳;邓键;马社;王晓丹 申请(专利权)人: 航天科工微电子系统研究院有限公司
主分类号: G01J9/00 分类号: G01J9/00;G02B3/00;G02B27/00
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 贾年龙
地址: 610000 四川省成都市天府*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于指向调制微透镜阵列的波前传感器及波前检测方法,包括指向调制微透镜阵列和光电探测器阵列,光电探测器阵列安装在指向调制微透镜阵列的焦面上;指向调制微透镜阵列中光轴上的子透镜仅对光束聚焦,不对光束偏转,其余子透镜均使光束向光轴方向进行偏转并聚焦,待测光束被各子透镜聚焦后的光斑均位于光电探测器阵列上等;本发明解决了缩束望远镜占用体积、重量较大的问题,显著减小波前传感器的体积和重量。
搜索关键词: 基于 指向 调制 透镜 阵列 传感器 检测 方法
【主权项】:
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