[发明专利]用于芯片的自适应电压与频率调节的测试电路的实现方法有效
| 申请号： | 202011478900.9 | 申请日： | 2020-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN112763890B | 公开（公告）日： | 2022-09-16 |
| 发明（设计）人： | 耿辰;王毓千;晋大师 | 申请（专利权）人： | 成都海光微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 彭久云 |
| 地址： | 610216 四川省成都市中国（四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 一种用于芯片的自适应电压与频率调节的测试电路的实现方法。该实现方法包括：获取用于实现芯片的至少一个关键路径对应的网表；根据第一关键路径对应的网表，对应地从芯片的工作区域内找到第一关键路径，并获取第一关键路径对应的第一关键路径坐标；根据第一关键路径坐标在芯片的不同于工作区域的测试区域中创建第一测试路径的摆放边界；以及在测试区域中根据第一测试路径的摆放边界对第一测试路径包括的各个单元的位置进行布局，从而在测试区域中完成对第一关键路径的物理实现。本公开的实施例提供的实现方法可以提高在芯片中实现测试电路的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 芯片 自适应 电压 频率 调节 测试 电路 实现 方法 | ||
【主权项】：
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