[发明专利]一种大电流高时间分辨率离子束束剖面测量的方法在审
| 申请号： | 202011472681.3 | 申请日： | 2020-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN112698378A | 公开（公告）日： | 2021-04-23 |
| 发明（设计）人： | 于玲;许永建;谢远来;胡纯栋;谢亚红;宋士花 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 张乾桢 |
| 地址： | 230031 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种大电流高时间分辨率离子束束剖面测量的方法，利用双层钨丝网结构钨丝诊断靶，每根钨丝一端由弹簧拉伸固定于陶瓷边框上，使得每根钨丝在受热时保持张力，每根钨丝的另一端穿过陶瓷边框接地，测量每根钨线收集的电荷量，结合单根钨丝的面积，计算电流密度，结合整个钨丝诊断靶纵向、横向不同位置钨丝的电流密度，可分析得到束剖面。配合采样率不低于120MHz的电流采集模块，该诊断系统的时间分辨率可达到纳秒级别，其速度远远高于传统诊断靶上热电偶秒量级的响应时间，也远高于可见光相机的图像采样速率，通过改变水平、竖直方向钨丝网编织的密度来可实现系统测量精度的调节。本发明可应用于大流强的带电粒子束(A量级甚至几十A)的束剖面测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电流 时间分辨率 离子束 剖面 测量 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院合肥物质科学研究院，未经中国科学院合肥物质科学研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011472681.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种空气源过滤装置及制氧装置
- 下一篇：汽车蓄电池加强板检具
