[发明专利]一种快速测量劣化后石质文物宏观工程参数的方法有效
| 申请号： | 202011439123.7 | 申请日： | 2020-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN112683915B | 公开（公告）日： | 2022-12-02 |
| 发明（设计）人： | 李黎;刘建彬;张中俭;邵明申;陈卫昌;周怡杉 | 申请（专利权）人： | 中国文化遗产研究院;中国地质大学（北京） |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京中知星原知识产权代理事务所(普通合伙) 11868 | 代理人： | 艾变开 |
| 地址： | 100029 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种快速测量劣化后石质文物宏观工程参数的方法，包括：确定石质文物石材种类和采集地；获取相同的新鲜岩石样品；制备实验样品；对实验样品进行分级劣化处理；测量细观参数并建立其与劣化因素之间的相关关系；测量宏观工程参数并建立其与劣化因素之间的相关关系；建立细观参数与宏观工程参数的相关关系并汇总形成数据对应关系表；当实际劣化发生时，取样岩石小样品，测量其细观参数值，然后根据所建立的数据对应关系表反算取样位置石材宏观工程参数。本发明通过预先的大量实验和分析并且建立数据对应关系表，可以科学地快速评价劣化后的宏观工程性质，为修复和重建过程中的方案制定提供支持，取样少，对文物损害小，应用广泛。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 测量 劣化后石质 文物 宏观 工程 参数 方法 | ||
【主权项】：
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