[发明专利]应用于测试电子元件的测试分选装置有效
申请号: | 202011436506.9 | 申请日: | 2020-12-11 |
公开(公告)号: | CN112718550B | 公开(公告)日: | 2023-06-16 |
发明(设计)人: | 赵轶;鲍军其;胡鹏飞;叶梦雅;梁敬好;王子豪;张琦杰;崔海洋 | 申请(专利权)人: | 杭州长川科技股份有限公司 |
主分类号: | B07C5/34 | 分类号: | B07C5/34;F24H3/00;F24H9/20;F24H15/421;F24H15/355 |
代理公司: | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人: | 何晓春 |
地址: | 310051 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本申请涉及应用于测试电子元件的测试分选装置,所述装置包括机台、设于机台的测试室;所述机台还设有与所述测试室管道连接的换热设备,所述换热设备对外界输入的气体进行冷热交换后输入至所述测试室,输入至所述测试室的气体用于调整所述测试室的测试温度;所述机台还设有与所述换热设备管道连接的冷媒物质压缩设备,所述冷媒物质压缩设备用于压缩冷媒物质并为所述换热设备提供冷媒物质,解决了相关技术中冷媒输送装置和测试装置搬运不便利的问题,提高了测试分选装置搬运的便利性。 | ||
搜索关键词: | 应用于 测试 电子元件 分选 装置 | ||
【主权项】:
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