[发明专利]一种检测材料晶界的晶体结构的方法有效
| 申请号： | 202011430692.5 | 申请日： | 2020-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN112526173B | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 彭金峰;黄宽;郑学军;张嘉林;何文远;李立豪 | 申请（专利权）人： | 湘潭大学 |
| 主分类号： | G01Q60/24 | 分类号： | G01Q60/24 |
| 代理公司： | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 | 代理人： | 李发军;胡凌云 |
| 地址： | 411105 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种检测材料晶界的晶体结构的方法，将待检测材料置于原子力显微镜的样品仓中，施加法向载荷，获取待检测材料的摩擦信号；缩小原子力显微镜的扫描范围，增大原子力显微镜的扫描频率，获取待检测材料的晶界上的摩擦信号；对摩擦信号进行傅里叶变换，获得低通滤波图像，即为待检测材料晶界的晶体结构。本发明的方法简单、快速，且无需对待检测样品进行预处理，也不会损伤样品。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 材料 晶体结构 方法 | ||
【主权项】：
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