[发明专利]一种双焦平面探测识别系统及探测识别方法有效
| 申请号： | 202011427878.5 | 申请日： | 2020-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN112578398B | 公开（公告）日： | 2022-11-29 |
| 发明（设计）人： | 潘文武;孙会;田俊林;周文超;唐丹;游安清;蒋建峰;李光;窦延娟 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 |
| 主分类号： | G01S17/89 | 分类号： | G01S17/89;G01S17/06;G01S17/86;G01S7/487;G01S7/493;G01J5/48 |
| 代理公司： | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人： | 于晶晶 |
| 地址： | 621900 四川省绵阳市*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种双焦平面探测识别系统及探测识别方法，探测识别方法包括S01、通过红外相机搜索探测并获取目标的短波红外图像；S02、高重频激光器向红外图像成像到目标的区域发射激光脉冲；S03、单光子面阵相机接收目标反射的回波并对目标进行三维成像；S04、根据三维点阵几何模型获取目标的位置信息和姿态信息；探测识别系统包括红外相机、高重频激光器、单光子面阵相机以及处理组件；先通过红外相机探测并且进行短波红外成像，获取目标粗略位置，然后向目标发射激光脉冲，根据目标回波形成三维成像，根据三维成像信息获得目标的精准位置信息和姿态信息，即使在受地面杂波的影响、夜晚以及目标温度与环境温度接近的情况下，也能够精准的探测目标。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 平面 探测 识别 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院应用电子学研究所，未经中国工程物理研究院应用电子学研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011427878.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种磁力抛光机
- 下一篇：一种转速波动下滚动轴承包络阶次谱故障特征的提取方法
