[发明专利]天体表面障碍物识别方法和装置在审

专利信息
申请号: 202011404160.4 申请日: 2020-12-02
公开(公告)号: CN112528808A 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 李海超;邱林伟;李志;黄龙飞 申请(专利权)人: 中国空间技术研究院
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06K9/46;G06K9/62
代理公司: 北京善任知识产权代理有限公司 11650 代理人: 张振伟
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及深空探测技术领域,提供一种天体表面障碍物识别方法和装置,包括:对深空探测巡视器获得的原始图像集进行障碍物标注,得到标注样本集;将标注样本集中的每张图像均进行特征融合,得到融合后的标注样本集;构建卷积神经网络,将融合后的标注样本集输入卷积神经网络,得到损失函数最小的训练模型;将深空探测巡视器获得的待识别图像进行特征融合,并将融合后的待识别图像输入到训练模型中,得到障碍物的分割识别结果。本发明克服了地外天体巡视器训练数据量不足的问题,实现了通过单幅图像就能够探测地外天体的障碍物,准确度高。
搜索关键词: 天体 表面 障碍物 识别 方法 装置
【主权项】:
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