[发明专利]一种基于基底运动的单分子力电表征系统及其控制方法有效
申请号: | 202011392235.1 | 申请日: | 2020-12-02 |
公开(公告)号: | CN112540195B | 公开(公告)日: | 2022-07-22 |
发明(设计)人: | 洪文晶;王海川;朱奕轩;谭志冰;师佳 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
主分类号: | G01Q60/24 | 分类号: | G01Q60/24 |
代理公司: | 厦门原创专利事务所(普通合伙) 35101 | 代理人: | 刘剑锋 |
地址: | 361000 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于基底运动的单分子力电表征系统及其控制方法,包含设置于屏蔽箱内的AFM扫描头、基底、驱动器,所述基底在其表面设置有硅片,所述硅片的表层镀金,所述AFM扫描头固定设置,所述AFM扫描头包含探针,所述探针的表层镀金;所述基底通过所述驱动器驱动并且可朝向所述AFM扫描头来回移动;所述探针和所述基底之间连接有微电流测量回路。本发明通过控制基底移动,在探针镀金,并且加入测量微电流测量回路,可结合原子力显微镜的力学测量和微电流测量,同步捕捉分子动态裂结过程中的电学信号和力学信号。与传统单分子测量技术相比,本发明具有多信号、易测量、测量重复性好、测量效果好等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 基底 运动 分子力 表征 系统 及其 控制 方法 | ||
【主权项】:
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