[发明专利]颗粒物粒径谱测量装置、方法及其分离气室和光路组件有效
| 申请号： | 202011391012.3 | 申请日： | 2020-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN112525781B | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 高建民;张红星;张志明;赵超龙;李东光;胥海艳;樊海春;张涛 | 申请（专利权）人： | 天津同阳科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 天津合正知识产权代理有限公司 12229 | 代理人： | 李震勇 |
| 地址： | 300000 天津市滨海新*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种颗粒物粒径谱测量装置、方法及其分离气室和光路组件，分离气室的气室内腔整体呈扁平长方体；气室内腔的上部左右两侧分别设置有极性相反的两个电极，在两个电极之间的空间形成一个电场方向与气室内腔高度方向相垂直的稳定的电场，且两个电极之间电场的宽度范围能覆盖气室内腔的宽度范围。本发明采用先通过电场对颗粒物按照粒径大小分级，再通过线阵CCD对各粒径颗粒物进行并行测量的方法，提高了粒径谱测量效率；通过对不同粒径颗粒物的信号幅度限定范围，防止信号噪声产生的颗粒物误计算；通过先分级后并行测量粒径的方法以及单像素单元粒子脉冲波形识别方法，可以很容易对叠加的粒子进行测量，提高了测量准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 粒径 测量 装置 方法 及其 分离 组件 | ||
【主权项】：
暂无信息
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