[发明专利]芯片测试机及芯片测试方法在审
| 申请号： | 202011356354.1 | 申请日： | 2020-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN112444734A | 公开（公告）日： | 2021-03-05 |
| 发明（设计）人： | 殷岚勇;徐亮 | 申请（专利权）人： | 苏州韬盛电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种芯片测试机及芯片测试方法，芯片测试机包括机架，以及设置于机架上的移载装置、测试装置、自动上料装置、自动下料装置及不良品放置台，自动上料装置包括第一料仓及自动上料机构，自动上料机构在所述第一料仓内上下移动；自动下料机构包括第二料仓及自动下料机构，自动下料机构在第二料仓内上下移动，移载装置位于自动上料装置、自动下料装置、测试装置及不良品放置台的上方，移载装置将自动上料装置的待测试芯片移动至测试装置，并将测试完成的芯片移动至自动下料装置或不良品放置台。本发明的芯片测试机的结构紧凑、体积较小，占地面积仅一平米左右，可以满足小批量的芯片测试要求。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
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