[发明专利]一种用于Σ-△ADC芯片的sinc滤波器仿真测试系统及方法有效
| 申请号： | 202011351073.7 | 申请日： | 2020-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN112511161B | 公开（公告）日： | 2023-09-08 |
| 发明（设计）人： | 夏亮;赵晓兀;巩炳杰;李令;林树刚;段国威;王礼新 | 申请（专利权）人： | 重庆智能机器人研究院 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 尉保芳 |
| 地址： | 400714 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于Σ‑△ADC芯片的sinc滤波器仿真测试系统及方法，系统包括：数据源生成模块，用于模拟Σ‑△ADC芯片的输出和输入信号，测试模块，用于根据时钟信号将读取的比特流数据传输至待测试模块中；待测试模块，用于接收传输来的比特流数据，将传输来的比特流数据作为滤波信号进行显示。本发明将两个正弦波进行叠加，再对叠加波形进行调制，得到比特流数据，从而模拟出Σ‑△ADC芯片的输出和输入信号，并调制时钟信号，根据时钟信号来读取比特流数据，可起到低通滤波的作用，并且在调制过程中可以观察波形，通过仿真测试，能在早期验证滤波效果并及时修正，不需要搭建电路测试环境，提高调制效率，降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 adc 芯片 sinc 滤波器 仿真 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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