[发明专利]偏光片内污检验方法在审

专利信息
申请号: 202011320991.3 申请日: 2020-11-23
公开(公告)号: CN112629822A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 张利娣;李花;雷超;朱瑞芳 申请(专利权)人: 惠州市富丽电子有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01N21/94;G01N21/95
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 任兵
地址: 516000 广东省惠州市惠阳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了偏光片内污检验方法,包括如下步骤:S1、将偏光片安装于专用的检验治具上,然后将检验治具连同偏光片放置于输送机构上,通过输送机构输送至保护膜清除装置;S2、首先通过安装在保护膜清除装置上的监控探头对偏光片的位置进行监测,然后通过保护膜清除装置将偏光片的保护膜去除;S3、将清除过保护膜的偏光片通过输送机构输送至暗房内,并通过集光光学器件照射于偏光片上;S4、通过检验摄像头从偏光片的左上角开始,从上到下,从左到右的方向移动并进行检验;S5、检验人员通过显示屏显示的数据判定该偏光片是否合格。本发明能批量进行检验,提高了检验的效率和精度,一定程度上降低了不良品流出客户端几率。
搜索关键词: 偏光 片内污 检验 方法
【主权项】:
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