[发明专利]用于管理形成例如微控制器的片上系统的调试的方法和对应片上系统在审

专利信息
申请号: 202011319002.9 申请日: 2020-11-23
公开(公告)号: CN112835845A 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: L·帕拉迪;N·安奎特;D·达维德斯卡 申请(专利权)人: 意法半导体(鲁塞)公司;意法半导体(ALPS)有限公司;意法半导体(大西部)公司
主分类号: G06F15/78 分类号: G06F15/78;G06F11/22
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 李春辉
地址: 法国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开涉及用于管理形成例如微控制器的片上系统的调试的方法和对应片上系统。在一个实施例中,片上系统包括:多个微处理器;多个从资源;互连电路,其耦合在微处理器与从资源之间,该互连电路被配置为在微处理器与从资源之间路由事务;以及处理控制器,其被配置为:允许系统的用户在系统内实施由配置信息块的集合所限定的系统的至少一个配置图,该配置信息块的集合用于限定至少一个微处理器向从资源中的至少一些从资源的指派;选择至少一个微处理器;并且授权外部调试工具出于调试目的仅访问被指派给该至少一个微处理器的从资源。
搜索关键词: 用于 管理 形成 例如 控制器 系统 调试 方法 对应
【主权项】:
暂无信息
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