[发明专利]一种芯片测试的方法和装置在审
| 申请号： | 202011314493.8 | 申请日： | 2020-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN112630618A | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 舒柏钦;宦承永;郭家宏;刘荣富;练奕龙 | 申请（专利权）人： | 深圳市国微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 李红艳 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请适用于电子技术领域，提供了芯片测试的方法和装置，其中，该方法包括：获取多个测试信息，所述多个测试信息与多个芯片一一对应；根据所述多个芯片的第一位置关系显示所述多个测试信息，其中，所述多个测试信息的显示位置的关系为第二位置关系，所述第二位置关系与所述第一位置关系相同。通过上述方案解决了测试人员快速定位待处理芯片的问题，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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