[发明专利]一种x射线荧光光谱法定量检测铈元素的方法在审
| 申请号： | 202011293418.8 | 申请日： | 2020-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN112461877A | 公开（公告）日： | 2021-03-09 |
| 发明（设计）人： | 黄显铭 | 申请（专利权）人： | 重庆长安工业（集团）有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/2202 |
| 代理公司： | 重庆大学专利中心 50201 | 代理人： | 郭吉安 |
| 地址： | 401120 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 一种x射线荧光光谱法定量检测铈元素的方法，其步骤包括：1)购买GBW镁合金标准样品；2)GBW镁合金标准样品加工；3)x射线荧光光谱仪器的通电及光管的老化处理；4)用标准样品建立工作曲线参数设置及谱线干扰的消除；5)用标准样品建立工作曲线；6)用标准样品建立的工作曲线检测待测样品；7)从计算机上获取结果或者直接打印出检测结果；8)整理检测报告。本发明克服了现有波长色散X射线荧光光谱仪技术不足，实现第三方公正对比检测，进一步完善产品质量保证评价体系，确保产品质量的均匀性、稳定性的要求，确保镁合金光谱标准样品在X荧光仪器上获得满意的分析结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 荧光 光谱 法定 检测 元素 方法 | ||
【主权项】：
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