[发明专利]电子器件加速度承受力实验设备在审
| 申请号： | 202011291369.4 | 申请日： | 2020-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN112362999A | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | 魏玉莲;余芳 | 申请（专利权）人： | 合肥亭瑞电气有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 合肥律通专利代理事务所(普通合伙) 34140 | 代理人： | 吴奇 |
| 地址： | 231200 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供电子器件加速度承受力实验设备，包括底板，所述底板的上端固定有监测摄像头，所述底板的前端固定有玻璃管，所述玻璃管的表面固定有加速电磁铁，所述玻璃管的左端固定有进入管，所述玻璃管的右端固定有脱离管，所述进入管和脱离管的表面套接有堵塞装置，所述玻璃管的内表面滑动连接有测试装置，本发明中通过各个单独设置的固定柱能贴合在不同形状的电子器件表面，从而固定不同形状和大小的电子器件，电磁层能通过固定柱的挤压包裹在电子器件表面，不接触电子器件的位置电磁层相互挤压在一起，能避免电子器件受到外部电磁的影响，避免外部干扰造成的检测问题。 | ||
| 搜索关键词： | 电子器件 加速度 承受力 实验 设备 | ||
【主权项】：
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