[发明专利]一种高精度双轴深层水平位移自动测量方法及测量系统在审
| 申请号： | 202011291292.0 | 申请日： | 2020-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN112359886A | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | 黄帆;吴廷;姚远 | 申请（专利权）人： | 上海市建筑科学研究院有限公司 |
| 主分类号： | E02D33/00 | 分类号： | E02D33/00;G08C17/02;G05B19/04 |
| 代理公司： | 上海三方专利事务所(普通合伙) 31127 | 代理人： | 吴玮 |
| 地址： | 200032 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种高精度双轴深层水平位移自动测量系统及测量方法，所述方法包括连接高精度双轴测斜探头与自动提升控制装置；在自动提升控制装置上设置下放的深度、提升的高度以及测量的时间间隔；根据设定的深度自动下放探头，通过自动提升控制装置根据设定的测段长度，控制探头提升高度至预定的高程，使探头在预定高程测量数据；根据测量数据进行误差分析；若数据误差符合精度要求，重复步骤S3～S4，进行下一高程的测量。本发明所提供的一种高精度双轴深层水平位移自动测量系统及测量方法，通过建立基于无线传输的自动化测量技术以代替人工重复操作，可以在提升外业工作效率的同时，保证测量成果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高精度 深层 水平 位移 自动 测量方法 测量 系统 | ||
【主权项】：
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