[发明专利]存储器测试系统及方法有效
| 申请号： | 202011277551.4 | 申请日： | 2020-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN112382335B | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 肖光 | 申请（专利权）人： | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/12 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 张晓薇 |
| 地址： | 430205 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储器测试系统及方法。所述存储器测试系统包括外部配置接口、外部环境模块和测试环境模块；所述外部配置接口用于输入测试参数；所述外部环境模块用于根据所述测试参数，确定相应的测试流程，在执行所述测试流程时，从预设的功能函数库中调取相应的功能函数，并产生所述功能函数对应的模式程序至所述测试环境模块；所述测试环境模块用于根据所述模式程序，对存储器进行测试。本发明实施例能够提高程序的复用性和可维护性，提高量产测试效率，且降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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