[发明专利]针对插卡设备的自动老化和校验系统及方法在审
| 申请号： | 202011275718.3 | 申请日： | 2020-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN112364671A | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | 林寅;吴大畏;李晓强 | 申请（专利权）人： | 深圳市硅格半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06K7/00 | 分类号： | G06K7/00 |
| 代理公司： | 深圳壹舟知识产权代理事务所(普通合伙) 44331 | 代理人： | 寇闯 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区科技南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种针对插卡设备的自动老化和校验系统及方法。系统包括：一个以上插卡设备、扩展板、电源装置和控制装置；扩展板包括用于插接SD卡的扩展槽、两个切换开关以及开关控制芯片；控制装置用于发送指令给开关控制芯片，以控制第一切换开关将SD卡与一个插卡设备接通或断开，和/或，控制第二切换开关将SD卡与控制装置接通或断开；以及，发送指令给电源装置将插卡设备和/或扩展板接通电源或断开电源；控制装置还用于对SD卡进行量产操作；插卡设备用于向完成量产操作的SD卡录制信息，进行老化测试；控制装置还用于对已完成老化测试的SD卡执行数据校验操作。该系统自动完成针对SD卡的老化和校验操作，不需要人工插拔卡干预。 | ||
| 搜索关键词： | 针对 插卡 设备 自动 老化 校验 系统 方法 | ||
【主权项】：
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