[发明专利]针对插卡设备的自动老化和校验系统及方法在审

专利信息
申请号: 202011275718.3 申请日: 2020-11-16
公开(公告)号: CN112364671A 公开(公告)日: 2021-02-12
发明(设计)人: 林寅;吴大畏;李晓强 申请(专利权)人: 深圳市硅格半导体有限公司
主分类号: G06K7/00 分类号: G06K7/00
代理公司: 深圳壹舟知识产权代理事务所(普通合伙) 44331 代理人: 寇闯
地址: 518000 广东省深圳市南山区科技南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 针对 插卡 设备 自动 老化 校验 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种针对插卡设备的自动老化和校验系统,其特征在于,包括:

一个以上插卡设备、扩展板、电源装置和控制装置;

所述扩展板包括用于插接SD卡的扩展槽、两个切换开关以及开关控制芯片,所述两个切换开关包括藕接于一个以上插卡设备和所述扩展槽之间的第一切换开关以及藕接于所述控制装置和所述扩展槽之间的第二切换开关,所述开关控制芯片用于控制所述第一切换开关和所述第二切换开关;

所述电源装置,用于为所述插卡设备和所述扩展板分别提供电源接口;

所述控制装置,用于发送控制指令给所述开关控制芯片,以控制所述第一切换开关将所述SD卡与其中一个插卡设备接通或断开,和/或,控制所述第二切换开关将所述SD卡与所述控制装置接通或断开;以及,发送通电/断电指令给所述电源装置,以控制相应的电源接口将所述插卡设备和/或所述扩展板接通电源或断开电源;

所述控制装置,还用于调用量产工具,对与自身接通的SD卡进行量产操作;

所述插卡设备,用于向与自身接通的、已完成量产操作的SD卡录制信息,进行老化测试;

所述控制装置,还用于对与自身接通的、已完成老化测试的SD卡执行数据校验操作。

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,

所述控制装置,具体用于:发送控制指令给扩展板上的开关控制芯片,将扩展板上连接的SD卡与控制装置接通;调用量产工具,对所述SD卡进行量产操作;发送控制指令给扩展板上的开关控制芯片,将所述SD卡与第一插卡设备接通,并发送通电指令给电源装置,将第一插卡设备接通电源,以便第一插卡设备向所述SD卡中录制信息,完成老化测试;在所述SD卡完成老化测试后,发送断电指令给电源装置,将第一插卡设备断开电源;发送控制指令给扩展板上的开关控制芯片,将所述SD卡与控制装置接通;运行校验程序,对所述SD卡执行数据校验操作。

3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,

所述控制装置,还用于对完成数据校验操作的所述SD卡执行格式化操作。

4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,

所述控制装置,还用于:发送控制指令给扩展板上的开关控制芯片,将所述SD卡与第二插卡设备接通,并发送通电指令给电源装置,将第二插卡设备接通电源,以便第二插卡设备向所述SD卡中录制信息,完成老化测试;发送断电指令给电源装置,将第二插卡设备断开电源;发送控制指令给扩展板上的开关控制芯片,将所述SD卡与控制装置接通;运行校验程序,对所述SD卡执行数据校验操作。

5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,

所述一个以上插卡设备包括行车记录仪和监控设备;

所述电源装置为电源时序控制器或继电器;

所述控制装置,为独立的控制主机或者集成在所述扩展板上的控制芯片。

6.一种自动老化和校验方法,用于如权利要求1所述的针对插卡设备的自动老化和校验系统,其特征在于,所述方法包括:

控制装置发送控制指令给扩展板上的开关控制芯片,将扩展板上连接的SD卡与控制装置接通;

控制装置调用量产工具,对所述SD卡进行量产操作;

控制装置发送控制指令给扩展板上的开关控制芯片,将所述SD卡与第一插卡设备接通,并发送通电指令给电源装置,将第一插卡设备接通电源,以便第一插卡设备向所述SD卡中录制信息,完成老化测试;

控制装置在所述SD卡完成老化测试后,发送断电指令给电源装置,将第一插卡设备断开电源;

控制装置发送控制指令给扩展板上的开关控制芯片,将所述SD卡与控制装置接通;

控制装置在接通所述SD卡后,运行校验程序,对所述SD卡执行数据校验操作。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,对所述SD卡执行数据校验操作,包括:

从所述SD卡中读取数据并保存,校验所述SD卡的数据是否出错,分析所述SD卡的数据,从所述SD卡的数据中提取特定信息。

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