[发明专利]传感器测量校正方法、装置、终端设备及存储介质在审
| 申请号： | 202011272871.0 | 申请日： | 2020-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN112505644A | 公开（公告）日： | 2021-03-16 |
| 发明（设计）人： | 陈熠;张磊;王晓 | 申请（专利权）人： | 加特兰微电子科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区自由贸易试验区盛夏*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例公开了一种传感器测量校正方法、装置、终端设备及存储介质。该传感器测量校正方法包括：获取待校正传感器的至少一个当前测量参数；基于校正模型对各所述当前测量参数进行校正，以得到所述待校正传感器的校正结果；以及根据所述校正结果对待校正传感器的参数输出进行校正；其中，所述校正模型为神经网络校正模型或最小二乘法校正模型。本申请实施例的技术方案，以实现提高校准精度，进而提高传感器的测量精度的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器 测量 校正 方法 装置 终端设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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