[发明专利]芯片测试方法及装置在审
| 申请号： | 202011259794.5 | 申请日： | 2020-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN112058713A | 公开（公告）日： | 2020-12-11 |
| 发明（设计）人： | 胡信伟;侯林;张宇;冯勖;顾军;李翔;张熙瑞 | 申请（专利权）人： | 南京派格测控科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人： | 李世喆 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市中国（江苏）自由*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了芯片测试方法及装置。预先在分选机转盘上设置至少两个工位，包括依序排列的对应第一测试项目的第一测试工位和对应第二测试项目的第二测试工位。工位杆的吸嘴从入料口吸附至少两个待测芯片依序进入分选机转盘；当第一待测芯片转入到第二测试工位上方且排在后一顺序的第二待测芯片转入到第一测试工位上方时，工位杆下移将第一待测芯片和第二待测芯片分别放置到第二测试工位和第一测试工位中分别同时进行测试，测试期间吸嘴持续吸附待测芯片；当测试结束时，工位杆上移将待测芯片从测试工位提出并向前旋转；当移动到出料口时，控制吸嘴停止吸附待测芯片使其从出料口离开分选机转盘。本发明的方案能够提高芯片测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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