[发明专利]暗点检测方法及其装置及电子设备在审
| 申请号： | 202011255199.4 | 申请日： | 2020-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN112365829A | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | 李东伟 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G09G3/3208 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 何辉 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例公开了一种暗点检测方法及其装置及电子设备，该方法包括：控制发光元件的第一端接入的电压小于所述发光元件第二端接入的电压，以使所述发光元件处于第一状态；控制所述发光元件的第一端接入的电压大于所述发光元件第二端接入的电压，以使所述发光元件处于第二状态；当检测到所述像素未点亮时，确定所述像素为暗点。本申请实施例的暗点检测方法及其装置及电子设备，可以提高暗点检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 方法 及其 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，未经深圳市华星光电半导体显示技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011255199.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
