[发明专利]用于固体材料直接测试的等离子质谱仪系统及测试方法在审

专利信息
申请号: 202011241329.9 申请日: 2020-11-09
公开(公告)号: CN112326772A 公开(公告)日: 2021-02-05
发明(设计)人: 于佳佳;周旭;孙露露;董栋;胡波;唐朝阳;周飞宇;李飞 申请(专利权)人: 上海裕达实业有限公司
主分类号: G01N27/626 分类号: G01N27/626;H01J49/42
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 李佳俊;郭国中
地址: 200245 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种用于固体材料直接测试的等离子质谱仪系统及测试方法,包括:待测样品、载物台、等离子发生管、等离子电离源、离子聚焦透镜、四极杆离子传输装置、检测器和质量分析器;所述待测样品置于载物台上;所述等离子发生管垂直悬于载物台上方,与载物台呈45°夹角;所述等离子电离源水平放置,与等离子发生管和载物台贴近;所述四极杆离子传输装置水平放置,与等离子电离源中间隔有竖直放置的离子聚焦透镜;所述检测器和质量分析器分别置于四极杆离子传输装置的末端的两侧。本发明中的等离子刻蚀不但可以处理固体待测样品,同时可作为离子源对待测物质进行电离,在增加功能的同时减少了样品预处理步骤,可有效简化仪器操作困难。
搜索关键词: 用于 固体 材料 直接 测试 等离子 质谱仪 系统 方法
【主权项】:
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