[发明专利]电子部件测试装置及其用的更换部件以及插座在审
申请号: | 202011230806.1 | 申请日: | 2020-11-06 |
公开(公告)号: | CN113030598A | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
发明(设计)人: | 汐田夏基;峯尾浩之 | 申请(专利权)人: | 株式会社爱德万测试 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10 |
代理公司: | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人: | 张黎;龚敏 |
地址: | 日本国东京都千*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种能够实施具有天线的DUT的基于近场的OTA测试的电子部件装置。电子部件测试装置(1)具备能够与DUT(10)电连接的插座(5)、载板(4)以及测试器(3),插座(5)具备:顶部插座(60),其配置为与DUT(10)的上表面(11a)对置,能够与DUT(10)电连接;以及底部插座(70),其与DUT(10)的下表面(11b)抵接,并且能够与顶部插座电连接,底部插座(70)具备:基部(71),其与DUT(10)的下表面(11b)抵接;以及测试天线(73),其与测试器(3)电连接,并且配置为与设备天线(12)对置。 | ||
搜索关键词: | 电子 部件 测试 装置 及其 更换 以及 插座 | ||
【主权项】:
暂无信息
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