[发明专利]电子部件测试装置及其用的更换部件以及插座在审

专利信息
申请号: 202011230806.1 申请日: 2020-11-06
公开(公告)号: CN113030598A 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 汐田夏基;峯尾浩之 申请(专利权)人: 株式会社爱德万测试
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 代理人: 张黎;龚敏
地址: 日本国东京都千*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种能够实施具有天线的DUT的基于近场的OTA测试的电子部件装置。电子部件测试装置(1)具备能够与DUT(10)电连接的插座(5)、载板(4)以及测试器(3),插座(5)具备:顶部插座(60),其配置为与DUT(10)的上表面(11a)对置,能够与DUT(10)电连接;以及底部插座(70),其与DUT(10)的下表面(11b)抵接,并且能够与顶部插座电连接,底部插座(70)具备:基部(71),其与DUT(10)的下表面(11b)抵接;以及测试天线(73),其与测试器(3)电连接,并且配置为与设备天线(12)对置。
搜索关键词: 电子 部件 测试 装置 及其 更换 以及 插座
【主权项】:
暂无信息
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