[发明专利]电子部件测试装置及其用的更换部件以及插座在审

专利信息
申请号: 202011230806.1 申请日: 2020-11-06
公开(公告)号: CN113030598A 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 汐田夏基;峯尾浩之 申请(专利权)人: 株式会社爱德万测试
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 代理人: 张黎;龚敏
地址: 日本国东京都千*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 电子 部件 测试 装置 及其 更换 以及 插座
【说明书】:

本发明提供一种能够实施具有天线的DUT的基于近场的OTA测试的电子部件装置。电子部件测试装置(1)具备能够与DUT(10)电连接的插座(5)、载板(4)以及测试器(3),插座(5)具备:顶部插座(60),其配置为与DUT(10)的上表面(11a)对置,能够与DUT(10)电连接;以及底部插座(70),其与DUT(10)的下表面(11b)抵接,并且能够与顶部插座电连接,底部插座(70)具备:基部(71),其与DUT(10)的下表面(11b)抵接;以及测试天线(73),其与测试器(3)电连接,并且配置为与设备天线(12)对置。

技术领域

本发明涉及一种用于具有天线的被测试电子部件(DUT:Device Under Test)的测试的电子部件测试装置、插座以及电子部件测试装置用的更换部件。

背景技术

作为确定无线设备的辐射性能特性的方法,已知一种将无线设备安装于远场无反响室内的安装机构以测量来自无线设备的信号的方法(例如,专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:特表2008-518567号公报

发明内容

发明所要解决的课题

作为无线设备的OTA(Over The Air,空中下载)测试,存在代替上述那样的基于远场(Far Field)的测试而实施基于近场(Near Field)的测试的情况。

本发明要解决的课题在于,提供一种能够实施基于近场的OTA测试的电子部件测试装置、插座以及更换部件。

用于解决课题的技术方案

[1]本发明所涉及的电子部件测试装置是一种对具有设备天线和形成于第一主面的端子的DUT进行测试的电子部件测试装置,具备:插座,其能够与所述DUT电连接;第一布线板;以及测试器,其具备装配有所述第一布线板的测试头,所述插座具备:第一插座,其配置为与所述第一主面对置,并能够与所述DUT电连接;以及第二插座,其安装于所述第一布线板,与所述DUT的所述第一主面的相反侧的第二主面抵接,并且能够与所述第一插座电连接,所述第二插座具备:基部,其与所述DUT的所述第二主面抵接;以及测试天线,其与所述测试器电连接,并配置为与所述设备天线对置,在所述DUT与所述第一插座电连接并且所述第一插座经由所述第二插座与所述测试头电连接的状态下,所述测试器通过在所述设备天线和所述测试天线之间收发电波来对所述DUT进行测试。

[2]本发明所涉及的电子部件测试装置是一种对具有设备天线和形成于第一主面的端子的DUT进行测试的电子部件测试装置,具备:插座,其能够与所述DUT电连接;第一布线板,其具有第一开口;以及测试器,其具备装配有所述第一布线板的测试头,所述插座具备:第一插座,其配置为与所述第一主面对置,能够与所述DUT电连接,并且能够与所述第一布线板电连接;以及第二插座,其经由所述第一开口从所述第一布线板露出,与所述DUT的所述第一主面的相反侧的第二主面抵接,所述第二插座具备:基部,其与所述DUT的所述第二主面抵接;以及测试天线,其与所述测试器电连接,并配置为与所述设备天线对置,在所述DUT与所述第一插座电连接并且所述第一插座经由所述第一布线板与所述测试头电连接的状态下,所述测试器通过在所述设备天线与所述测试天线之间收发电波来对所述DUT进行测试。

[3]在上述发明中,也可以是,所述第二插座具备对从所述设备天线或测试天线辐射的电波进行衰减的第一衰减构件,所述第一衰减构件介于所述测试天线和所述设备天线之间。

[4]在上述发明中,也可以是,所述设备天线包括设置于所述第二主面的第一设备天线,所述测试天线包括配置为与所述第一设备天线对置的第一测试天线,所述基部具有使所述第一测试天线与所述第一设备天线对置的第二开口。

[5]在上述发明中,所述第一衰减构件可以以介于所述第一测试天线和所述设备天线之间的方式设置在所述第二开口内。

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