[发明专利]一种空心叶片残芯中子检测灵敏度的参考线确定方法有效
申请号: | 202011211488.4 | 申请日: | 2020-11-03 |
公开(公告)号: | CN112525933B | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 高祥熙;陈木子;王倩妮;何方成;贾新云 | 申请(专利权)人: | 中国航发北京航空材料研究院 |
主分类号: | G01N23/05 | 分类号: | G01N23/05 |
代理公司: | 中国航空专利中心 11008 | 代理人: | 仉宇 |
地址: | 100095 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种空心叶片残芯中子检测灵敏度的参考线确定方法。该方法应用反应堆中子检测系统和对比试样,对比试样表面加工有含宽度和深度相同的两条平行长槽,其中一条长槽形成有填充型芯。包括步骤:(1)对比试样在反应堆中子检测系统中透照成像;(2)获取透照图像中等间距线的厚度和灰度;(3)绘制离散点图和参考线,照厚度T与对比度C之间线性关系。该方法避免了铸造实物叶片和脱芯工艺的繁琐步骤,便于得到不同材料厚度下、不同掺杂含量的残芯对比度灵敏度,该灵敏度接近真实的残芯检测灵敏度,同时还有利于定量残芯的细节检测能力,可实现残芯中子检测检测前的定量灵敏度的参考目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 空心 叶片 中子 检测 灵敏度 参考 确定 方法 | ||
【主权项】:
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