[发明专利]一种用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置在审
| 申请号： | 202011210841.7 | 申请日： | 2020-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN112345920A | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 鲁晓东;余凯 | 申请（专利权）人： | 武汉智汇芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 湖北天领艾匹律师事务所 42252 | 代理人： | 杨建军 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置，具体包括以下步骤：S1、当要对激光二极管芯片进行加电测试时，将芯片放置在放置框顶部设置的凹槽内部，然后启动外部的控制开关，使得电机开始工作，电机已预先调整好转速，电机启动带动第一皮带轮转动，第一皮带轮继而通过皮带带动第二皮带轮转动，此时活动杆也开始转动，本发明涉及激光二极管技术领域。该用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置，可实现对激光二极管芯片进行传送式输送，从而方便后续芯片的自动化加电测试，无需人工拿取探针对芯片进行逐个测试，加电测试后的测试数据能及时显示出来，大大提高了工作进度，提高了测试的稳定性以及精确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 激光二极管 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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