[发明专利]芯片扫描测试方法、装置、处理器芯片及服务器在审
| 申请号： | 202011199893.9 | 申请日： | 2020-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN112363045A | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | 林耀坤 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 300000 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明一个或多个实施例公开一种芯片扫描测试方法、装置、处理器芯片及服务器。其中，一种芯片扫描测试方法，包括：获取目标芯片的扫描测试向量；检测所述扫描测试向量中的预设部分向量的顺序是否满足预设的最优向量顺序；响应于所述扫描测试向量中的预设部分向量的顺序满足所述最优向量顺序，基于所述扫描测试向量对所述目标芯片进行自动测试设备ATE上机测试。该方法可缩短芯片扫描测试的周期。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 扫描 测试 方法 装置 处理器 服务器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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