[发明专利]一种非接触式跨障碍的高密度测量方法在审

专利信息
申请号: 202011193982.2 申请日: 2020-10-30
公开(公告)号: CN112305624A 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 唐小平;郭培虹;刘生荣;田中英;杜辉;白运;孙芳强 申请(专利权)人: 中国地质调查局西安地质调查中心(西北地质科技创新中心)
主分类号: G01V3/38 分类号: G01V3/38
代理公司: 北京易捷胜知识产权代理事务所(普通合伙) 11613 代理人: 韩国胜
地址: 710054 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种非接触式跨障碍的高密度测量方法,其包括:首先,根据拟解决的地质问题与区域地质条件进行测线线路设计,并结合现场踏勘数据测量障碍物宽度与设定障碍物宽度区间;其次,搭建基础数据采集系统与跨障碍数据采集系统;接着,进行跨障碍数据采集系统转换与导入检查,最后根据导入的跨障碍数据采集系统,进行野外布线,使其满足高密度数据采集要求后,开展数据采集即可获取跨障碍高密度数据。本发明自主设计数据采集系统以规避因大障碍物出现的空道或接触如河流、水泥地面等电阻率与自然电位异常区域;同时,提出近地表非均匀性校正技术以处理因跨越小障碍物或近地表存在自然电位不均匀体而引起的电阻率剖面数据形变问题。
搜索关键词: 一种 接触 障碍 高密度 测量方法
【主权项】:
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