[发明专利]一种非接触式跨障碍的高密度测量方法在审
申请号: | 202011193982.2 | 申请日: | 2020-10-30 |
公开(公告)号: | CN112305624A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 唐小平;郭培虹;刘生荣;田中英;杜辉;白运;孙芳强 | 申请(专利权)人: | 中国地质调查局西安地质调查中心(西北地质科技创新中心) |
主分类号: | G01V3/38 | 分类号: | G01V3/38 |
代理公司: | 北京易捷胜知识产权代理事务所(普通合伙) 11613 | 代理人: | 韩国胜 |
地址: | 710054 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 接触 障碍 高密度 测量方法 | ||
1.一种非接触式跨障碍的高密度测量方法,其特征在于,包括:
S1、根据拟解决的地质问题与区域地质条件进行测线线路设计,并结合现场踏勘数据测量障碍物宽度与设定障碍物宽度区间;
S2、采用中间梯度测深最佳拟断面深度计算公式,基于温纳装置建立基础数据采集系统;
S3、对基础数据采集系统中的障碍物宽度区间所对应的空白片区进行补空,建立跨障碍理论数据采集系统;
S4、根据第一坐标转换公式将跨障碍理论数据采集系统转变为跨障碍实际数据采集系统,并将跨障碍实际数据采集系统导入到基于传统高密度设备改进的高密度硬件系统;
S5、根据跨障碍实际数据采集系统进行野外布线,满足高密度规范数据采集要求后,开展数据采集获取跨障碍实际采集数据序列;
S6、根据第二坐标转换公式将跨障碍实际采集数据序列转换为跨障碍理论采集序列,得到按实际坐标排列的电阻率剖面。
2.如权利要求1所述的一种非接触式跨障碍的高密度测量方法,其特征在于,步骤S1包括:
S11、根据拟解决的地质问题与区域地质条件,确定高密度测线的长度、高密度测线的方向以及实际应用高密度的总道数,并对所有电极排序得到电极基本信息;电极基本信息包括实际采集数据序列N0与实际电极距LD;
S12、基于电极基本信息结合现场勘探数据,以障碍物为中心开展剖面地形放样,确定每个电极的具体空间位置以及障碍物在剖面上的跨度距离LZH,将障碍物在剖面上的跨度距离LZH通过距离换算公式换算为点电极距个数NZH;
S13、根据实际采集数据序列N0与障碍物宽度换算电极距个数NZH,得出整个剖面的实际长度所对应的跨障碍系统设计的总道数,并对所有电极排序,得出理论采集数据序列NR,而NR=N0+NZH,同时确定障碍物宽度区间为(NFRONT,NBACK)。
3.如权利要求2所述的一种非接触式跨障碍的高密度测量方法,其特征在于,所述距离换算公式为:
NZH=Int(LZH/LD+0.5)。
4.如权利要求1-3任一项所述的一种非接触式跨障碍的高密度测量方法,其特征在于,所述中间梯度测深最佳拟断面深度计算公式为:
Zmed=αmin(|lA-xmn/2|,|lB-xmn/2|),
其中Zmed为最佳拟断面深度,α为深度系数,|lA-xmn/2|为A到MN中点的距离、|lB-xmn/2|为B到MN中点的距离;
基础数据采集系统的最佳拟断面深度为:
Zmed=0.346|lA-xmn/2|,
其中,|lA-xmn/2|=|lB-xmn/2|。
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