[发明专利]一种材料双向反射透射的函数测量装置在审
申请号: | 202011142352.2 | 申请日: | 2020-10-23 |
公开(公告)号: | CN112414975A | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 钟土基 | 申请(专利权)人: | 佛山市双耀科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/59 | 分类号: | G01N21/59;G01N21/55;G01N21/01 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 胡枫;李素兰 |
地址: | 528000 广东省佛山市南海区狮山镇罗村广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种材料双向反射透射的函数测量装置,包括底座、转动部件、光源转动架、探测器转动架,光源,探测器以及样品夹;所述转动部件包括主驱动组件,由所述主驱动组件驱动的转动组件以及用于安装所述转动组件的第一固定轴,所述第一固定轴与所述底座连接;所述转动组件与光源转动架之间设有第一驱动组件,所述转动组件与探测器转动架之间设有第二驱动组件,所述第一驱动组件带动所述光源沿球面轨迹运动,所述第二驱动组件带动所述探测器沿球面轨迹运动;所述样品夹与所述第一固定轴固定。实施本发明,可实现材料表面光学特定定量分析,结构简单,操作简便。 | ||
搜索关键词: | 一种 材料 双向 反射 透射 函数 测量 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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