[发明专利]一种屏幕缺陷检测的点线测量方法有效
| 申请号： | 202011139186.0 | 申请日： | 2020-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN112394064B | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 廖付龙;胡辉;汪杰 | 申请（专利权）人： | 高视科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G06T7/00 |
| 代理公司： | 惠州市超越知识产权代理事务所(普通合伙) 44349 | 代理人： | 陈文福 |
| 地址： | 215163 江苏省苏州市高新区嘉陵江路19*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种屏幕缺陷检测的点线测量方法，首先通过相机对屏幕进行拍照，并对图像进行处理，得到缺陷的位置信息；对缺陷进行识别，得到缺陷的类型；接着对缺陷进行计算，计算出缺陷的色度值和亮度值；随后控制高分辨率相机移动至缺陷所在位置处；调整高分辨率相机中的小景深镜头的物距，使成像聚焦分别聚焦至屏幕的不同层级中，采集不同层级的图像信息，以此分辨出点缺陷所在层级；通过采集不同层级画面图像信息，判定缺陷所在画面并进行分类；在软件界面中输出点缺陷和线缺陷的信息，并对其进行分类。本发明的点线测量方法不仅可以分辨出屏幕中缺陷的点线类型，而且还能够分析出缺陷所在位置与所在的层级。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 屏幕 缺陷 检测 点线 测量方法 | ||
【主权项】：
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