[发明专利]一种基于激光TOF技术的墙地砖侧底面缺陷测量装置

摘要

本发明提供一种基于激光TOF技术的墙地砖侧底面缺陷测量装置，包括一组激光发射器，回光接收器，数据采集系统和数据处理系统；所述激光发射器分别设置于墙地砖的底面和四个侧面一定距离处，用于向各面发射激光，所述回光接收器和激光发射器成对设置，所述回光接收器用于接收激光发射器发射的激光，并将接收的数据由数据采集系统采集并传送至数据处理系统，所述数据处理系统进行三维点云计算。该装置既可以满足持久性对墙地砖侧底面缺陷进行测量，同时又不会过多增加企业成本，同时本装置作为墙地砖全平面检测系统的辅助装置，将配合墙地砖正面高精度测量系统从而可以实现墙地砖的全平面覆盖。