[发明专利]分段式LSTM的微网逆变器IGBT可靠性评估方法及系统有效

专利信息
申请号: 202011116964.4 申请日: 2020-10-19
公开(公告)号: CN112214951B 公开(公告)日: 2022-05-24
发明(设计)人: 何怡刚;王传坤;王晨苑;李猎;吴晓欣;张慧 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G06F30/367 分类号: G06F30/367;G06N3/04;G06N3/08;G06F119/02;G06F119/04;G06F119/08
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 张宇
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于分段式LSTM的微网逆变器IGBT可靠性评估融合方法及系统,包括:建立电热耦合模型,获得实时的结温数据;针对IGBT老化的特性对原LSTM算法进行改进得到分段式LSTM预测网络;利用IGBT老化参数的监测值进行分段LSTM预测,获得预估老化进程,并就此划分不同老化阶段的阈值;对比阈值与监测数据,实时判断IGBT的老化阶段,并对电热耦合模型参数进行老化修正,确保结温数据的准确性;利用雨流计数法对结温数据进行处理,计算IGBT实时的热应力载荷分布;结合疲劳损伤理论和Lesit寿命预测模型,计算IGBT的实时的累积损伤度和预估寿命。本发明将可靠性分析与状态监测结合,以计及IGBT老化进程对于可靠性分析的影响。
搜索关键词: 段式 lstm 逆变器 igbt 可靠性 评估 方法 系统
【主权项】:
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